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支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1 電力瓷套、瓷支柱絕緣子參考試塊 對比試塊JYZ-G 爬波探頭JYZ-3

文章出處:河北雷納檢測科技有限公司 瀏覽量:809發(fā)表時間:2019/12/30
石家莊飛泰檢測儀器有限公司支柱絕緣子及瓷套超聲波探頭及試塊報價表
序號飛泰品牌
探頭分類
探頭晶片尺寸mm ×mm探頭弧面對應直徑(mm)適用工件外徑頻率適合間距(mm)單價(元)
1

JYZ-1

爬波探頭

10 ×12×2Φ100<Φ1002.5P>15致電
2爬波探頭10 ×12×2Φ120>Φ1002.5P>15
3爬波探頭10 ×12×2Φ140>Φ1202.5P>15
4爬波探頭10 ×12×2Φ160>Φ1402.5P>15
5爬波探頭10 ×12×2Φ180>Φ1602.5P>15
6爬波探頭10 ×12×2Φ200>Φ1802.5P>15
7爬波探頭10 ×12×2Φ220>Φ2002.5P>15
8爬波探頭10 ×12×2Φ240>Φ2202.5P瓷套探傷專用
9爬波探頭10 ×12×2Φ260>Φ2402.5P瓷套探傷專用
10爬波探頭10 ×12×2Φ280>Φ2602.5P瓷套探傷專用
11爬波探頭10 ×12×2Φ300>Φ2802.5P瓷套探傷專用
12爬波探頭10 ×12×2Φ400>Φ3002.5P瓷套探傷專用
13爬波探頭10 ×12×2Φ500>Φ4002.5P瓷套探傷專用
14爬波探頭10 ×12×2Φ600>Φ4002.5P瓷套探傷專用
15爬波探頭10 ×12×2平面>Φ5002.5P瓷套探傷專用
16JYZ-2爬波探頭8 ×10×2Φ100<Φ1002.5P>12
17爬波探頭8 ×10×2Φ120>Φ1002.5P>12
18爬波探頭8 ×10×2Φ140>Φ1202.5P>12
19爬波探頭8 ×10×2Φ160>Φ1402.5P>12
19爬波探頭8 ×10×2Φ180>Φ1602.5P>12
20爬波探頭8 ×10×2Φ200>Φ1802.5P>12
21爬波探頭8 ×10×2Φ220>Φ2002.5P>12
22爬波探頭8 ×10×2平 面>Φ2202.5P>12
23JYZ-3爬波探頭6 ×10×2Φ100<Φ1002.5P>12
24爬波探頭6 ×10×2Φ120>Φ1002.5P>12
25爬波探頭6 ×10×2Φ140>Φ1202.5P>12
26爬波探頭6 ×10×2Φ160>Φ1402.5P>12
27爬波探頭6 ×10×2Φ180>Φ1602.5P>12
28爬波探頭6 ×10×2Φ200>Φ1802.5P>12
29爬波探頭6 ×10×2Φ220>Φ2002.5P>12
30爬波探頭6 ×10×2平 面>Φ2202.5P>12
31小角度縱波探頭8 ×10Φ120 6°>Φ1005P>12內(nèi)部缺陷專用
32小角度縱波探頭8 ×10Φ140 6°>Φ1205P>12內(nèi)部缺陷專用
33小角度縱波探頭8 ×10Φ160 6°>Φ1405P>12內(nèi)部缺陷專用
34小角度縱波探頭8 ×10Φ180 6°>Φ1605P>12內(nèi)部缺陷專用
35小角度縱波探頭8 ×10Φ200 6°>Φ1805P>12內(nèi)部缺陷專用
36小角度縱波探頭8 ×10平 面6°>Φ2005P>12內(nèi)部缺陷專用
37小角度縱波探頭8 ×10Φ180 8°>1005P>12內(nèi)部缺陷專用
38小角度縱波探頭8 ×10平 面8°>Φ2005P>12內(nèi)部缺陷專用
39雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ160>Φ1405P瓷套探傷專用
40雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ180>Φ1605P瓷套探傷專用
41雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ200>Φ1805P瓷套探傷專用
42雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ220>Φ2005P瓷套探傷專用
43雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ240>Φ2205P瓷套探傷專用
44雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ260>Φ2405P瓷套探傷專用
45雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ280>Φ2605P瓷套探傷專用
46雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ300>Φ2805P瓷套探傷專用
47雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ400>Φ3005P瓷套探傷專用
48雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ500>Φ4005P瓷套探傷專用
49雙晶橫波探頭8 ×10×2Φ600>Φ5005P瓷套探傷專用
50雙晶橫波探頭8 ×10×2平   面>6005P瓷套探傷專用
51縱波直探頭Φ10平   面
5P聲速測定用
序號試塊名稱型   號規(guī)   格使用范圍
1校準試塊JYZ-BXⅠ360°旋轉(zhuǎn)/帶支架支柱絕緣子專用
2校準試塊JYZ-BXⅡ瓷套專用
3瓷柱對比試塊JYZ-GΦ120瓷柱聲速≥6300m/s參考對比
1瓷支柱絕緣子參考試塊≤Φ100-Φ110外壁模擬裂紋
2瓷支柱絕緣子參考試塊>Φ110-Φ120外壁模擬裂紋
3瓷支柱絕緣子參考試塊>Φ120-Φ130外壁模擬裂紋
4瓷支柱絕緣子參考試塊>Φ130-Φ140外壁模擬裂紋
5瓷支柱絕緣子參考試塊>Φ140-Φ150外壁模擬裂紋
6瓷支柱絕緣子參考試塊>Φ150-Φ160外壁模擬裂紋
7瓷支柱絕緣子參考試塊>Φ160-Φ170外壁模擬裂紋
8瓷支柱絕緣子參考試塊>Φ140-Φ160內(nèi)部缺陷
1瓷套參考試塊>Φ160-Φ200內(nèi)外壁模擬裂紋
2瓷套參考試塊>Φ200-Φ300內(nèi)外壁模擬裂紋
3瓷套參考試塊>Φ300-Φ400內(nèi)外壁模擬裂紋
4瓷套參考試塊>Φ400-Φ500 內(nèi)外壁模擬裂紋
5瓷套參考試塊>Φ500-Φ600 內(nèi)外壁模擬裂紋
1探頭連接線Q9-C6、C9-C6、C5-C6或根據(jù)儀器選配
電力瓷套、瓷支柱絕緣子參考試塊 對比試塊JYZ-G 爬波探頭JYZ-3
石家莊飛泰檢測儀器有限公司生產(chǎn)的FUT880瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀儀器適用于瓷套、支柱絕緣子生產(chǎn)單位、制造、安裝、維護,發(fā)電廠、變電站、開關站、換流站、串補站以及高壓配電設備所在區(qū)域,戶內(nèi)和戶外外徑≥Φ60mm高壓支柱瓷絕緣子及外徑≥Φ160mm的斷路器、CT、PT(含CVT)、避雷器等設備瓷質(zhì)外套的超聲波檢測,需要缺陷檢測和質(zhì)量控制的領域。

IP65防護等級,全防水、防油、防塵設計
一、產(chǎn)品概述
FUT880瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀是飛泰公司專注多年精心研制的產(chǎn)品,該產(chǎn)品設計獨特、制造精良、操作便捷、功能強勁,集諸多優(yōu)勢于一身,自問世以來一直倍受用戶親睞,它能夠快速便捷、無損傷、準確地進行支柱絕緣子,瓷套內(nèi)部多種缺陷(裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測、定位、評估和診斷。采用全數(shù)字TFT 640×480真彩色液晶顯示屏,可根據(jù)環(huán)境選擇操作界面風格,液晶亮度可調(diào)節(jié),界面設計人性化、波形顯示細膩;可全屏清晰發(fā)現(xiàn)缺陷;單手可把持操作,曲線制作、探頭校準等常規(guī)操作均可自動完成;核心處理器CPU主頻400M,能快速完成復雜運算,實現(xiàn)智能缺陷分析;低功耗設計配備大容量高性能鋰離子電池模塊可連續(xù)工作10小時以上;支持多語言版本。防水、防油、防塵可達到IP65防護等級。
二、執(zhí)行標準
DL/T303-2014《電網(wǎng)在役支柱瓷絕緣子及瓷套 超聲波檢測》
GB/T2900.8 電工術語 絕緣子
GB/T12604.1 無損檢測術語 超聲檢測 J
B/T9214 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法。
JB/T10061 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術條件
JB/T10062 超聲探傷用探頭性能測試方法
JB/T 10063 超聲探傷用1號標準試塊 技術條件
DL/T 675 電力工業(yè)無損檢測人員資格考核規(guī)則
三、絕緣子超聲波探傷儀探頭的弧面選擇
探頭移動時要求保持與檢測面的良好吻合,應選用與試件曲面相匹配的探頭。一般可在支柱瓷絕緣 子及瓷套直徑變化 20mm 范圍內(nèi)選用一種規(guī)格弧度的探頭,但僅允許曲率半徑大的探頭探測曲面半徑小 一檔的試件(一檔為 20mm)。探頭的弧面直徑分為:Φ100mm、Φ120mm、Φ140mm、Φ160mm、Φ180mm、 Φ200mm、Φ220mm、Φ240mm、Φ260mm、Φ280mm、Φ300mm、Φ400mm、Φ500mm、Φ600mm 以及平面 15 種規(guī)格。
四、FUT880瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀數(shù)據(jù)處理軟件DataPro
該軟件是絕緣子超聲波探傷儀的通訊軟件,軟件運行在MS Windows系統(tǒng)下,可以通過USB通訊接口與儀器連接,讀取儀器內(nèi)存儲的波形和參數(shù),并給出直觀的顯示圖形;可以將波形和數(shù)據(jù)存入數(shù)據(jù)庫,并可隨時調(diào)出或刪除數(shù)據(jù)庫中的保存的測量數(shù)據(jù);可以將數(shù)據(jù)輸出與計算機相連的打印機。軟件的主界面如右圖所示:

 五、技術參數(shù)
◆技術參數(shù)優(yōu)勢
檢測范圍:0~20000mm
工作頻率:0.2~20MHz(可根據(jù)探頭頻率全自動匹配,無需手動設置)
聲速范圍:300~15000m/s
動態(tài)范圍:≥36dB
垂直線性誤差:≤2.5%
水平線性誤差:≤0.1%
分 辨 力:>40dB(5P14)
靈敏度余量:>65dB(深200mmФ2平底孔)
數(shù)字抑制:0~80%,不影響線性與增益
電噪聲電平:≤8%
探頭類型:直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭
閘    門:進波門、失波門;單閘門、雙閘門讀數(shù);峰值觸發(fā)、邊沿觸發(fā)。
報    警:蜂鳴報警,LED燈報警
電    源:直流(DC)9V
待機時間:>10小時
外型尺寸:285mm×225mm×72mm
環(huán)境溫度:-10~50℃
相對濕度:20~95%RH
注:以上指標是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測得。
支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1 電力瓷套、瓷支柱絕緣子參考試塊 對比試塊JYZ-G 爬波探頭JYZ-3
人員
超聲波檢驗人員須經(jīng)過本導則附錄A所列檢驗工藝的培訓并經(jīng)考核合格后方可執(zhí)行檢驗工作和檢驗報告的簽發(fā)。
超聲波檢驗人員須熟悉并掌握本導則的各項規(guī)定,并按規(guī)定的檢驗工藝進行操作。
安全及工作環(huán)境
超聲波檢驗工作須遵守《國家電網(wǎng)公司電力安全工作規(guī)程(變電站和發(fā)電廠電氣部分)》的有關規(guī)定,當現(xiàn)場工作環(huán)境不具備檢驗條件時,檢驗人員應停止工作,待環(huán)境條件符合要求后再行工作。
數(shù)字式A型脈沖反射式超聲波探傷儀器的要求
儀器的性能指標應符合JB/T 10061的規(guī)定。
儀器的性能測試方法應符合JB/T 9214的規(guī)定,測試周期為1年。
儀器的工作頻率范圍至少為1~6 MHz。
儀器的實時實采樣頻率不小于100 MHz。
儀器可記錄波形應≥500幅。
儀器顯示刷新率應≥60HZ。
儀器可測聲速范圍:100~15000m/s。
儀器須配有標準的通信接口,可通過界面程序與計算機進行數(shù)據(jù)和波型交換,也可直接與打印機相連。
儀器所配對比試塊應符合本導則附錄B所列技術條件要求。
數(shù)字式A型脈沖反射式超聲波探傷儀所配用探頭的要求
探頭應按JB/T 10062的規(guī)定進行測試,測試周期為1年。
探頭對準對比試塊上被測棱邊,當反射波幅*大時,探頭中心線與被測棱邊的夾角應在90o±2o的范圍內(nèi)。
探頭主波束在垂直方向不應有明顯的雙峰或多峰。
探頭的中心頻率允許偏差為±0.5MHz。
縱波直探頭*大穿透能力: 400mm。
縱波斜探頭缺陷*大檢出能力:可檢出被測瓷支柱絕緣子及瓷套內(nèi)部深度≤250mm內(nèi)的Φ1mm孔。
爬波探頭缺陷*大檢出能力:距瓷支柱絕緣子及瓷套裂紋40mm時,能檢出深1mm的裂紋
支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1
檢驗方法
聲速測定
對不同批次、不同尺寸的瓷支柱絕緣子,需按不少于1%的比例抽檢作聲速測定,以確定其強度范圍。
瓷支柱絕緣子的聲速測定應采用縱波直探頭,采用卡尺量出被測瓷支柱絕緣子的直徑并輸入儀器,調(diào)整儀器找到兩次回波,并將回波限在閘門范圍內(nèi),測試出被測瓷件聲速值。一般高強瓷的聲速>6500m/s,(6370-65000m/s)。
瓷套的聲速測定暫不作要求。
內(nèi)部缺陷檢測
內(nèi)部缺陷(指瓷件內(nèi)部存在的點狀、多個或從狀、裂紋等缺陷)應采用縱波斜入射方法進行檢測。
選擇探頭:在探頭移動范圍允許的情況下,盡量選擇入射角較大的探頭,以提高表面缺陷檢出能力。一般可在直徑變化20mm的范圍內(nèi)確定一種弧度規(guī)格探頭,直徑大的探頭可用于探測直徑小一檔的瓷件。瓷支柱絕緣子及瓷套直徑大于Φ240mm時可以采用平面探頭。
調(diào)整顯示比例:以JYZ-BX試塊上與瓷支柱絕緣子直徑及瓷套壁厚相近處的Φ1mm橫通孔作為參照,調(diào)整波形顯示比例(一般儀器A通道預置顯示比例適用于直徑200mm的瓷件。比如瓷支柱絕緣子直徑為140 mm,屏幕上底波的橫向顯示距離應為距始波70%屏幕寬度)。
調(diào)整靈敏度:以JYZ-BX試塊上深40mm,Φ1mm橫通孔為參照,采用按自動增益鍵或手動調(diào)整增益的方式,使該橫通孔的*強反射波高為屏幕縱向顯示刻度的80%(即80%波高)支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1 電力瓷套、瓷支柱絕緣子參考試塊 對比試塊JYZ-G 爬波探頭JYZ-3